電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)的變形試驗(yàn)是指在各種載荷作用下，變形體在時(shí)間或空間上的形狀、大小和位置的變化。變形監(jiān)測(cè)又稱(chēng)變形測(cè)量或變形觀測(cè)。變形量測(cè)是對(duì)設(shè)置在變形體上的觀測(cè)點(diǎn)進(jìn)行周期性、重復(fù)性觀測(cè)，得到觀測(cè)點(diǎn)各周期相對(duì)于第一階段點(diǎn)位或高程的變化。
電子萬(wàn)能試驗(yàn)橫向變形試驗(yàn)主要包括以下四點(diǎn)：
1. 變形測(cè)量技術(shù)參數(shù)：變形測(cè)量指標(biāo)參數(shù)包括測(cè)量范圍、示值誤差、靈敏度和分辨率。
2. 測(cè)量范圍---試驗(yàn)機(jī)通過(guò)測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量的材料或部件的小尺寸之間的范圍。
3. 示值誤差---試樣變形值記錄或顯示的測(cè)量值與實(shí)測(cè)值的差值稱(chēng)為試驗(yàn)機(jī)測(cè)量系統(tǒng)的示值誤差。指示誤差是不可避免的，其大小在規(guī)定范圍或標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)。
4. 試驗(yàn)機(jī)變形測(cè)量靈敏度---靈敏度指示器相對(duì)于測(cè)量變化的位移率。靈敏度是測(cè)量物理儀器的一個(gè)標(biāo)志。試驗(yàn)機(jī)測(cè)量系統(tǒng)靈敏度越高，測(cè)量結(jié)果的精度越高。
電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)變形測(cè)量的等級(jí)和精度取決于變形允許值和變形測(cè)量目的。目前普遍認(rèn)為，如果觀測(cè)的目的是使變形值不超過(guò)某一允許值，以保證建筑物的安全，則觀測(cè)中誤差不應(yīng)小于允許變形值的1/10~1/20;如果觀測(cè)的目的是研究變形過(guò)程，則觀測(cè)精度應(yīng)更高。
電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)變形測(cè)量是利用試驗(yàn)機(jī)對(duì)變形體的變化進(jìn)行監(jiān)測(cè)。該方法的目的是獲得變形體的空間位置隨時(shí)間的變化特征，并根據(jù)結(jié)果調(diào)整相應(yīng)的結(jié)果。
